目前，主流的产品logo都是喷印在产品上的，但由于工艺的原因，印制的logo通常都存在一定的印刷不良，如印刷错位、漏印、错印等，这严重影响了产品的外观及品牌的整体形象, 针对此类问题，很多企业采用人工检测的方式来检测印制品的质量，但是由于人检测过程中不可避免的失误，会导致大量漏检、错检和人工损伤，愈来愈高的人力成本也成为生产厂家规模扩张的一大制约因素。
在工业中使用高光面材质加工一些平整度较高，且表面要求较高的工件，如手机logo，军用设备中的导光板等产品, 如苹果LOGO瑕疵检测。
此类型的工样品本身是属于镜面反光，工件本身平整度高，且易粘黏油污、手印等。

难点，问题点：
反光问题：由于材质表面光洁度很高，已经形成一个高光镜面，光源即使在很弱的状态下，表面的反光也会有非常强的对比度，这种对比度会把表面本身的杂质、划痕、研磨痕等缺陷覆盖，使得视觉拍照无法检测出零件表面缺陷。
倒影问题：由于材质表面已经形成一个镜面，一般的光学镜头和视觉光源的灯珠等都会在材质表面形成倒影，这个倒影会成像在最后的检测画面上,会严重影响材质表面的成像效果，造成检测无法进行。
朗锐智科根据多年机器视觉检测项目经验，总结出的成熟系统解决方案，主要用来解决电子产品表面Logo缺陷检测，目前主要应用在国内产品Logo和手机外壳Logo表面缺陷检测。

碰伤、击伤、缺口瑕疵检测
刮伤瑕疵检测
压伤、凹痕瑕疵检测
针孔瑕疵检测
腐蚀点、白点、麻点瑕疵检测
脏污瑕疵检测
研磨痕瑕疵检测
料线、料纹瑕疵检测
凸包瑕疵检测等
可应用在电子行业内的缺陷检测，例如可穿戴产品表面缺陷检测、平板电脑Logo缺陷检测等，同时也可应用在医疗器械等高亮度、镜面缺陷检测。